2026年11月3日星期二
M
หวนอวี่ทงเจี้ยน
ข่าวด่วนทั่วโลก

Resolving the Kay–Dunn limit and the speed–endurance dilemma in ferroelectric Hf0.5Zr0.5O2 for DRAM-class sub-volt capacitors

แหล่งที่มา Nature 物理科学4 วันที่แล้ว
บทคัดย่อเนื้อหา

เว็บไซต์นี้ให้บริการเฉพาะดัชนีหัวข้อและบทคัดย่อเท่านั้น เนื้อหาฉบับเต็มและลิขสิทธิ์เป็นของเจ้าของผู้เผยแพร่เดิม โปรดคลิกลิงก์ต้นฉบับเพื่ออ่าน

ไปยังต้นฉบับ
ช่องที่สังกัด
วิทยาศาสตร์
ภูมิภาคที่สังกัด
มุมมองระดับโลก
ภาษาต้นฉบับ
English
หมายเลขรายการ
science-33432f3a

Comments 0 comments

No comments yet. Be the first.

Resolving the Kay–Dunn limit and the speed–endurance dilemma in ferroelectric Hf0.5Zr0.5O2 for DRAM-class sub-volt capacitors · หวนอวี่ทงเจี้ยน